【本報綜合外電報導】一項新研究指出，比起現行產前檢查，簡單的抹片檢查未來可望更早發現胎兒先天缺陷。

底特律的韋恩州立大學研究人員二日說，他們可從婦女懷孕初期接受抹片檢查的檢體細胞中，找到足夠的胎兒DNA，檢查有無基因異常。

這項新研究的規模相當小，還需做更多研究才能進一步證實，但如果此法奏效，研究人員說，未來婦女可早在懷孕五周時，就以非侵入性的抹片檢查，確認更多基因異常狀況。

這項研究發表在《轉譯醫學期刊》（Science Translational Medicine），作者之一的韋恩州大副教授卓爾洛說，除了唐氏症，目前還有約六千種基因異常難以在懷孕早期以非侵入方式評估。

目前篩檢基因異常的主要幾種辦法都是侵入性檢查，例如羊膜穿刺及絨毛膜取樣，這類檢查都有低度流產風險。取樣的時間分別在懷孕大約十五周、十周時進行。

主導的卓爾洛及韋恩州大教授艾爾門特說，他們針對二十名女性，在懷孕五到十九周期間做子宮頸抹片檢查，取得胎兒滋養層細胞，繪製胎兒的DNA，找出基因異常。這套辦法，還可預示胎盤有問題。