【本報台北訊】金屬工業研究發展中心昨天表示，已成功開發電腦視覺自動精密量測機，可自動快速檢查電路板ＩＣ晶片，讓晶片瑕疵無所遁形，有效提升業者經營競爭力。

金屬中心表示，國內ＩＣ封裝測試業界檢驗晶片外型瑕疵時，大都依賴人工作業方式，導致檢視失誤率偏高。金屬中心結合電腦視覺自動精密量測軟體和機械業者，利用光學自動精密檢測技術，共同開發具高正確率的電腦視覺自動精密量測機，且價格約只有歐美相似品級的一半。

這套自動精密量測機每秒約可檢測ＩＣ晶片二個，能檢測出ＩＣ晶片外表缺陷、污損、型號標示不明和錯置等，檢出正確率可達百分之九十九點九，並符合業者的品管標準，不但檢測速度大幅提升，每一個作業員可監看三台量測機，人工與設備成本都明顯降低。